第1个回答 2019-07-06
x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成。x射线管产生入射x射线(一次x射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放产生二次x射线(即x荧光),并且不同的元素所放射出的二次x射线(x荧光)具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次x射线(x荧光)的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
测出x荧光射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是x荧光射线定性分析的基础。
此外,x荧光射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。