这区别大了,
透射电子显微镜简称TEM,就像给样品拍照片一样,直观地观察样品的粒径大小,是否均匀,形状如何,通过高倍的透射电子显微镜还可以看到晶格,利用仪器自带的软件可以计算出晶面间距,这基本上是TEM能够得到的信息。
而XRD是根据样品晶体对
X射线的衍射得到衍射峰位图,它直接得到的结果是一大堆数字,然后你可以利用excel或者origi罚鼎窜刮诃钙撮水郸惊n软件把图画出来,根据峰的位置和强度判断是什么物质,根据峰是否尖锐定性观测粒径大小,结晶程度,根据得到的数据可以定量估算粒径大小,
晶格常数等等。
希望采纳。
参考资料:我就是干这个的