这区别大了，
透射电子显微镜简称TEM，就像给样品拍照片一样，直观地观察样品的粒径大小，是否均匀，形状如何，通过高倍的透射电子显微镜还可以看到晶格，利用仪器自带的软件可以计算出晶面间距，这基本上是TEM能够得到的信息。
而XRD是根据样品晶体对
X射线的衍射得到衍射峰位图，它直接得到的结果是一大堆数字，然后你可以利用excel或者origi罚鼎窜刮诃钙撮水郸惊n软件把图画出来，根据峰的位置和强度判断是什么物质，根据峰是否尖锐定性观测粒径大小，结晶程度，根据得到的数据可以定量估算粒径大小，
晶格常数等等。
希望采纳。
参考资料：我就是干这个的