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x射线衍射和透射电子显微镜在材料结构分析中的异同点
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第1个回答 2017-05-19
periences, what associations should we
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xrd sem表征差异
答:
即X-ray diffraction ,
X射线衍射
,通关对材料进行X射线衍射,
分析
其衍射图谱,获得
材料的
成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用
电子
束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶...
电子衍射与X射线衍射
有什么
异同
?
答:
首先,电子波的波长较短,使得它在物质中的散射效应异常强烈,大约是
X射线
散射能量的万倍之多。</ 这种高散射率不仅增强了
电子衍射
的复杂性,使得强度
分析
变得更为精细,而不像X射线那样可以广泛测定晶体结构。其次,电子的高衍射强度限制了其穿透能力,使其在研究微晶、表面和薄膜晶体时独占鳌头,而对于...
测定
材料的
物相组成可用哪些方法?各方法有什么特点?
答:
1、金相分析法:包括光学显微镜分析、扫描电子显微镜分析、
透射电子显微镜分析
等。金相分析法可以直接观察材料的组织形态,对
材料中的
晶粒、相界、夹杂物等结构进行定性和定量分析。该方法的特点是直观、简单、快速,适用于金属、陶瓷等材料的物相组成分析。2、
X射线衍射分析
法:包括X射线粉末
衍射和
X射线单晶衍...
如何表征
材料的
微区
结构
?
答:
透射电子显微镜
(TEM):TEM通过透射电子束来研究
材料的
微观结构。它可以提供高分辨率的图像和晶体结构信息,适用于研究材料的晶粒、晶界和位错等微观结构。
X射线衍射
(XRD):XRD通过测量材料对入射
X射线的衍射
来
分析
晶体结构和晶体学参数。XRD可以用于确定材料的晶体结构和晶粒尺寸等微区结构信息。原子力...
应用
透射电子显微镜
和XRD这两种仪器时行物相
分析
时有哪些
异同点
答:
这区别大了,
透射电子显微镜
简称TEM,就像给样品拍照片一样,直观地观察样品的粒径大小,是否均匀,形状如何,通过高倍的透射电子显微镜还可以看到晶格,利用仪器自带的软件可以计算出晶面间距,这基本上是TEM能够得到的信息。而XRD是根据样品晶体对
X射线的衍射
得到衍射峰位图,它直接得到的结果是一大堆数字,...
EDS及XRD的性能区别
答:
1、EDS是针对一些元素的含量进行测试,XRD是测试晶体
结构的
。2、EDS (Energy Dispersive Spectrometer)能谱
分析
,能谱仪是与扫描
电子显微镜
或
透射电镜
相连的设备。在微米或纳米尺度上对扫描电镜或透射电镜内通过电子碰撞所产生的
X射线的
能量进行测量来确定物质化学成分。分析范围:4-100号元素定性定量分析。...
X射线和显微镜中的
小角度
衍射
有什么区别?
答:
不同的指示物。1、小角度衍射:利用聚焦在
电子显微镜
直镜中的电子束辐照样品,在原子静电场的作用下,电子将束散射。2、
x射线衍射
(XRD):通过对材料进行x射线衍射,
分析
其衍射图案,获得
材料的
组成、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。二、不同的特征 1、小角度衍射:在消除反射、折射...
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