透射电子显微镜常用的信号

如题所述

透射电子显微镜常用的信号如下:

透射电子显微镜(TEM)是一种常用的电子显微镜,用于观察微小的物体,如材料、生物样品等。在TEM中,常用的信号包括以下几种:

透射电子:当高能电子束穿过样品时,部分电子被样品中的原子散射,形成透射电子。透射电子的强度和相干性取决于样品的厚度和密度。通过探测透射电子,可以得到样品的形貌、晶体结构和元素分布等信息。

衍射电子:当高能电子束穿过样品时,部分电子与样品中的原子发生相互作用,产生衍射电子。衍射电子的方向和强度可以提供有关样品晶体结构和缺陷的信息。通过探测衍射电子,可以得到样品的晶体结构、晶体取向和晶格畸变等信息。

荧光辐射:当高能电子束与样品相互作用时,样品中的原子或分子可能会被激发到高能态,然后释放出荧光辐射。荧光辐射的波长和强度可以提供有关样品成分和结构的信息。通过探测荧光辐射,可以得到样品的元素组成、化学键结构和表面吸附等信息。

阴极荧光:当高能电子束与样品相互作用时,样品中的原子或分子可能会被激发到高能态,然后释放出阴极荧光。阴极荧光的波长和强度可以提供有关样品成分和结构的信息。通过探测阴极荧光,可以得到样品的元素组成、晶体结构和缺陷等信息。

以上是TEM中常用的几种信号,它们分别提供了关于样品的不同方面的信息,帮助我们更深入地了解样品的结构和性质。

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