透射电镜与扫描电镜的区别

如题所述

1. 透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)的结构有所不同。透射电镜使用一个细长的样品杆,样品放置在电磁场中,电子束穿过样品。扫描电镜则有一个固定的样品台,电子束扫描样品表面。
2. 两者的工作原理也不同。透射电镜通过电子束穿过样品,利用电磁透镜系统收集透过样品的电子,形成高分辨率的图像。扫描电镜则使用电子束扫描样品表面,通过收集反射或二次电子来形成图像。
3. 对样品的要求也有差异。透射电镜需要非常薄的样品,通常在几十纳米厚,以使电子束能够穿透。扫描电镜适用于较厚的样品,但仍需导电涂层以保证电子束与样品的相互作用。
4. 操作方式不同。透射电镜通常需要更高的精度和更细致的操作,因为样品非常薄且对环境条件敏感。扫描电镜的操作相对直观,更适合快速表面分析和形貌观察。
5. 放大倍数方面,透射电镜可以达到5000万倍以上,而扫描电镜的放大倍数通常在1-2百万倍之间。
6. 用途上,透射电镜适合用于观察内部结构,如细胞膜、病毒等超微结构。扫描电镜则更适合表面形貌分析,材料成分分析,以及失效分析等。
7. 扫描电镜通过线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子,而透射电镜收集透过样品的电子。
8. 透射电镜常用于观察细微物质结构,扫描电镜主要用于观察固体表面的形貌和物质成分分析。
9. 透射电镜的电子由钨丝热阴极发射出,通过聚光镜使电子束聚焦。扫描电镜的电子束聚焦后扫描样品表面。
10. 操作环境方面,两者对样品台和样品的环境控制不同。透射电镜需要高真空环境,而扫描电镜可以在不同的环境(如大气、低压等)下操作。
11. 品牌型号和系统版本在两者之间没有明确区分,可以根据具体设备确定。
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