平面度的计算公式为:平面度=最大读数-最小读数。
平面度是一种形状公差，用于描述一个表面与一个理想平面之间的偏差。平面度的测量方法有两种：探针式和光学式。
探针式方法是利用三坐标测量机等设备，对表面上的若干点进行接触测量，然后用最小二乘法或最小区域法拟合一个理想平面，再计算各测量点到理想平面的距离，取最大值作为平面度的公差值。
光学式方法是利用结构光、激光三角、光谱共焦和干涉式等技术，对表面进行无接触的扫描测量，获得大量的坐标数据，然后用同样的拟合方法得到理想平面和平面度的值。
平面度的计算公式根据拟合方法的不同而有所区别。最小二乘法的原理是使所有测量点到理想平面的距离的平方和最小，最小区域法的原理是使包含所有测量点的两个平行平面间的距离最小。
根据国际标准ISO12781-2011和国家标准GB/T24630.1-2009，平面度有四种指标：峰-谷平面度误差（FLTt）、峰-基平面度误差（FLTp）、谷-基平面度误差（FLTv）和均方根平面度误差（FLTq）。
峰-谷平面度误差是指平面内波峰和波谷与理想平面偏差的绝对值之和，可以用最小二乘法或最小区域法计算。
峰-基平面度误差是指平面内波峰距离理想平面的偏差值，只能用最小二乘法计算。
谷-基平面度误差是指平面内波谷距离理想平面的偏差值，也只能用最小二乘法计算。
均方根平面度误差是指各测量点距离理想平面偏差的平方和的平方根值，反映各测量点与理想平面的偏离程度，也只能用最小二乘法计算。
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