【科普】XRD在材料分析中的应用

如题所述

X射线衍射分析(XRD)是一种用于材料分析的结构分析方法,它利用晶体形成的X射线衍射,研究物质内部原子在空间分布的状况。分析原理基于当X射线入射到晶体时,原子(电子)将其散射,每个原子作为新的辐射源辐射出与入射波同频率的电磁波。由于晶体由按一定规律排列的晶面组成,这些晶面的间距与入射X射线波长相似,因此不同晶面散射的X射线相互干涉,并在符合布拉格方程的空间方向上产生强X射线衍射。布拉格方程2dsinθ=nλ表示只有照射到相邻两晶面的光程差是X射线波长n倍时才产生衍射,其中d为晶面间距,θ为入射X射线与相应晶面的夹角,λ为X射线的波长,n为衍射级数。

通过比较未知物与已知样品的衍射图中各谱线的位置、数目和强度,可以进行物相分析,以获得材料的成分、原子或分子的结构或形态等信息。XRD还能测定晶粒度,基于衍射线的宽度与材料晶粒大小的关系,通过Scherrer公式计算获得晶粒尺寸。此外,XRD还可以用于测定纳米粉体的比表面积,以及研究薄膜的厚度和界面结构。

小角度X射线衍射(SA-XRD)适用于纳米多层膜材料,通过观察调制界面在满足布拉格条件时产生的相干衍射峰,可以测定调幅周期。利用XRD研究薄膜的厚度以及界面结构,可以提供物相的纵向深度剖析结果和界面物相分布信息。通过分析X射线谱,可以鉴别晶态和非晶态物质,以及区分微晶和结晶好的晶态物质。

举例而言,XRD可以对单一物质进行定性分析,如硫酸钠纯品的测试结果匹配为七水硫酸镁。对于混合物质,通过XRD分析可以确定其组成,例如二氧化钛和硫酸钡。在胶粘剂灰分的分析中,通过XRD测试可以识别出碳酸钙、碳酸镁、硅酸盐等成分。此外,XRD还能用于测定矿渣粉玻璃体的含量,通过测量X射线衍射图中玻璃体部分的面积与底线上面积之比得到结果。

总结而言,XRD在材料分析领域发挥着重要作用,通过X射线衍射分析,研究人员能够获得关于材料结构的详细信息,为材料的开发和应用提供科学依据。
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