紫外-可见光光谱(UV-Vis)是一种强大的分析工具,它通过测定190至800纳米波段内物质对光的吸收程度,用于鉴别、杂质检查和定量测定。当光穿过溶液时,物质对光的吸收程度随波长变化,通过绘制吸光度与波长的关系图,我们能得到物质的吸收光谱,其中包括最大吸收波长(λmax)和最小吸收波长(λmin)等特征信息。这些特征与物质结构密切相关,可用于对比分析或通过特定波长的吸收比值进行鉴别。
在定量分析中,UV-Vis主要用于在最大吸收波长处测量样品溶液的吸光度,通过与对照溶液比较或利用吸收系数计算样品浓度。显微分光光度法则结合了光学显微镜和紫外可见光谱仪,可用于微观样品的光谱测量,如纺织纤维、油漆碎片、玻璃碎片和微小半导体晶片的分析。此外,它还能用于监控沉积薄膜的厚度,通过干涉图案计算和测量折射率、消光系数等参数,以实现材料质量和沉积过程的控制。
总而言之,UV-Vis光谱法是一种精密且多用途的分析技术,广泛应用于化学、材料科学、生物学和半导体等领域,为微观到宏观的样品提供了关键的光谱信息。