自Henry Clifton（1849）创立“显微镜岩相学”这个地质学新的分支学科以来，偏光显微镜已成为岩石学研究的必备工具。今天，显微镜薄片鉴定法仍是研究沉积岩最基本的方法，作为一个沉积学工作者，必须熟练掌握和充分利用此方法。不管是基础沉积学研究还是沉积岩（区）地质调查，职业研究人员一般都应该亲自完成采样、确定标本切片方向、制作薄片（这一环节也可由专门技术人员完成）、薄片鉴定、沉积岩定名及成分-结构成因分析的全过程。
1.基本原理
选择光谱的可见光部分（380～760nm波长范围）为光源，经起偏器形成偏振光，偏振光通过非均质矿物（具有双折射特性）时形成常光和非常光，出现双折射产生光程差，进而呈现不同级序的干涉色。在单偏光镜下可观察到矿物的形态、解理、糙面及结构等特征，在正交偏光下可观察到矿物的干涉色等特征。
2.样品要求
（1）薄片厚度不能超过0.03mm，否则会影响光性特征。
（2）观察时保持盖玻片清洁，否则影响观察质量。
3.地质应用
通过对矿物的形态、解理及干涉色等的观察，完成岩石中矿物成分、结构的定性分析，进而为岩石的定名提供依据；通过矿物鉴定及组构特征观察，开展沉积岩分类、沉积微相分析、成岩后生变化及成岩作用分析、岩石各类空隙特征及含量分析等工作。