透射电镜和扫描电镜有什么相同和不同之处,各自主要应用在何种目的_百 ...

如题所述

1. 扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)都是用于观察物体表面形貌的材料科学测试技术。
2. 扫描电镜通过收集二次电子——即电子束反射回来的信息——来形成图像。
3. 透射电镜则收集穿过物体的电子束信息来形成图像。
4. 透射电镜具有比扫描电镜更高的分辨率。
5. 此外,透射电镜能够检测物质的结构和晶体类型(包括多晶和单晶),而扫描电镜则无法做到这一点。
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