EDS能谱测试介绍

如题所述

能谱EDS是能量色散X射线光谱仪,其原理基于X射线管产生的X射线辐射在物体表面,导致样品内层电子被逐出,产生空穴。外层电子自发跃迁填补空穴,释放X特征射线,能量与入射能量无关,仅与两能级能量差有关。特征X射线进入硅探测器后电离,产生电子-空穴对,数量与光子能量成正比。利用偏压收集,转换为电压脉冲,通过多脉冲高度分析器计数,形成能谱。

EDS谱峰表示不同元素,但含量高并不直接对应峰位多。EDS分析基于电子壳层电子跃迁,谱线数量反映外层电子分布,通过选择特定谱峰强度和元素响应值进行定量分析。不同元素谱线特性决定分析。

X射线能谱仪由探测头、放大器、多道脉冲高度分析器、信号处理和显示系统组成。探测头将X射线光子信号转换为电脉冲,放大器增强信号,多道脉冲高度分析器按能量区分脉冲,信号处理系统用于鉴别、计算和记录分析结果。

EDS能谱仪具有点、线、面分析功能。点分析在样品表面某点进行定性或定量分析,准确度高,适合低含量元素分析。线分析沿样品表面扫描,收集元素特征X射线,获取元素含量变化图。面分析在样品区域扫描,得到元素分布图,适用于杂质、相分布研究。

定量分析EDS通过标样比较或理论计算,计算元素百分含量。最低检测含量为0.X%,定量分析误差<±3%。EDS分析快速,对样品损伤小,检测线一般为0.1%~0.5%。

EDS样品制备需根据不同类型:块状样品需光滑切面;粉末样品需球形粉末,熔融压制;液体样品倒入容器,顶部分析;过滤纸试样需选择无干扰元素的过滤材料;其他样品则几乎适应所有尺寸、形状和物理性能的样品。
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