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STEM电镜与TEM的不同之处
扫描透射
电镜
(
STEM
)有哪些特点?
答:
(1)STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂
。(2)加速电压低,可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品的透射分析。(3)可以观察较厚的试样和低衬度的试样。(4)扫描透射模式时物镜的强激励,可以实现...
SEM、
TEM和STEM
有什么主要
区别
?
答:
TEM,即透射电镜,如同X光透视,揭示内部的秘密
。它的电压远超SEM,能够穿透样品,揭示出隐藏在表面之下的微观结构,让你洞悉物体的内在世界。然而,如果我们把TEM看作是全视角的观察者,那么STEM,扫描透射电镜,更像是TEM的一个分支。虽然功能上与TEM有所交叠,但STEM更像是TEM的精简版,专注于局部区...
扫描透射
电镜
(
STEM
)有哪些特点
答:
STEM是既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜
。象SEM一样,STEM用电子束在样品的表面扫描,但又象TEM,通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。
STEM技术要求较高
,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。优点 1. 利用扫描透射电子显微镜可以观察...
简介一下
答:
透射
电镜
(transmission electron microscope,
TEM
)透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像, 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。因为样品物质的电子云密度
不同
,产生不同深浅的黑白图像。透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的,厚度为100~2000┱的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似...
扫描
电镜与
透射电镜
的区别
?
答:
1、结构差异:主要体现在样品在电子束光路中的位置不同
。透射电镜的样品在电子束中间,电子源在样品上方发射电子,经过聚光镜,然后穿透样品后,有后续的电磁透镜继续放大电子光束,最后投影在荧光屏幕上;扫描电镜的样品在电子束末端,电子源在样品上方发射的电子束,经过几级电磁透镜缩小,到达样品。当然后续...
球差
电镜
是什么意思
答:
球差
电镜的
产生:TEM中包含多个磁透镜:聚光镜、物镜、中间
镜和
投影镜等。球差是由于磁镜的构造不好造成的,这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正
不同
的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。当我们使用
STEM
模式时,聚光镜会聚电子束扫描样品成像,此时聚光镜球差是影响分辨率的主要原因。因此,以做STEM为主的...
亚显微镜,
电子显微镜
,光学显微镜
的区别
???
答:
电子显微镜
可以观察到更加细致的结构,如线粒体等细胞器的内部结构,细胞膜的大体结构等方面。都是用来观察细胞组织的细微结构。
不同之处
:普通光学显微镜分辨率低(0.2微米),放大率低( 2000 ),不能分析化学成分。电子显微镜分辨率0.1~0.2纳米,放大率几万~上百万,能分析化学成分。
电子显微镜的
现状及其发展趋势
答:
这种UHV-
STEM
仪器相当复杂,难以推广。 9、能量选择
电子显微镜
能量选择
电镜
EF-TEM是一个新的发展方向。在一般透射电镜中,弹性散射电子形成显微像或衍射花样;非弹性散射电子则往往被忽略,而近来已用作电子能量损失谱分析。德国Zeiss-Opton公司在80年代末生产的EM902A型生物电镜,在成像系统中配有电子能量谱仪,选取损失...
TEM
(透射电镜)测试——透射
电镜的
电子枪
答:
冷场发射(CFE)和肖特基热场发射(TFE)各有优势:CFE提供极高的空间分辨率,而TFE则束流稳定、噪音低。通过适当的操作技巧,两者在使用寿命上相差无几,但根据特定应用的需求,如高分辨
STEM
或EELS,选择会有所
不同
。加速电压的选择:平衡清晰度与材料特性 在实际操作中,加速电压的选择需要考虑材料的...
最精密的显微镜是什么
答:
真空装置。真空装置用以保障显微镜内的真空状态,这样电子在其路径上不会被吸收或偏向。 样品架。样品可以稳定地放在样本架上。此外往往还有可以用来改变样品(如移动、转动、加热、降温、拉长等)的装置。 探测器,用来收集电子的信号或次级信号。利用透射
电子显微镜
(Transmission Electron Microscopy
TEM
)可以直接获得一个样...
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