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特征x射线谱的产生机理
常用分析方法
答:
把试样放入X射线光谱仪的样品室,受初级X射线照射,发出次级X射线,其中含有试样各组成元素的特征线。次级线束经准直后,进行扫描,最后记录的是强度随θ角的变化曲线,实际上就是X射线光谱。再解析
谱
图中的谱线以获知样品中含有的元素。目前绝大部分元素的
特征X射线
均已准确测出,新型X射线荧光光谱仪已...
样品分析的
X
荧光方法
答:
(一)基本原理 如果样品中元素的特征X射线峰计数率与被激发元素的含量成直线关系,则采用已知含量的标准样品进行比较方法,很容易求得样品中元素的含量为 放射性勘探方法 式中:Ii为样品中待分析元素A的
特征X射线谱
峰的计数率;I标为与样品处于相同几何条件下测得的标准标品中元素i的X射线谱峰计数率;...
电视
产生的射线
中包括
x射线
吗?
答:
连续光
谱的
性质和靶材料无关,而特征光谱和靶材料有关,不同的材料有不同的特征光谱这就是为什么称之为“特征”的原因。
X射线的特征
是波长非常短,频率很高。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而
产生
的。所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的,而光学光谱则是...
原子对电子的散射与原子对
x射线的
散射有何差异
答:
特征X射线谱
:也称标识X射线谱,它是由若干特定波长而强度很大的谱线构成的,这种谱线只有当管电压超过一定数值Vk(激发电压)时才能
产生
,而这种谱线的波长与X射线管的管电压、管电流等工作条件无关,只取决于阳极材料不同元属制成的阳极将发出不同波长的谱线,并称为特征X射线谱。
X射线
能
谱
定性分析
答:
X射线能
谱
定性分析快速有效,是电子探针和扫描电镜分析必须的组成部分。用X射线能谱仪测量试样
特征X射线
全谱中各谱峰的能量值,计算机释谱得出试样的元素组成。X射线能谱定性分析要注意背景的判别、峰的位移、峰的重叠、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干扰峰等问题,以免导致错误的分析结果。(1)背景的判别...
样品分析的基本理论
答:
方程(10-4-2)表明
特征X射线
If不仅和A元素含量CA有关;而且和样品对射线的吸收特性有关。即和激发的初始射线以及荧光射线在样品的质量吸收系数密切相关。造成了If和元素含量之间的非线性关系。这就是
X射线谱
分析中的基体效应(又叫脉石效应)。(一)饱和厚度样品 对样品中待测元素受激发
产生的
特征X...
样品分析的基本理论
答:
方程(10-4-2)表明
特征X射线
If不仅和A元素含量CA有关,而且和样品对射线的吸收特性有关,即和激发的初始射线以及荧光射线在样品的质量吸收系数密切相关。这就造成了If和元素含量之间的非线性关系。这就是
X射线谱
分析中的基体效应(又叫脉石效应)。(一)饱和厚度样品 对样品中待测元素受激发
产生的
特征X...
EDS和EDX的区别是什么?
答:
根据强度测定元素的相对含量。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当
特征X射线
光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,
产生
若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能
谱
中每个能带的脉冲数。
X射线
荧光分析的基本介绍
答:
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成:
X射线发生
器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。不同元素具有波长不同的
特征X射线谱
,而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系,测定待...
x射线
荧光分析(RFA)与能量色散x射线光谱分析(EDX)的关系?
答:
同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为
特征X射线
。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。量子力学知识告诉我们,X 射线具有波粒...
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