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俄歇电子能谱
俄歇电子能谱
(AES)的基本原理与应用
答:
俄歇电子能谱
(AES),这一微观世界的探索者,凭借其独特的技术原理,揭示了材料表面的化学成分和微观结构的神秘面纱。诞生于1925年,首次应用于表面分析的瑰宝在1953年绽放光彩,其核心设备包括电子枪和精密的能量分析仪,共同构建起这个精密的分析工具(见图1)。AES的魔力源自原子的三次轨道跃迁的精妙。...
俄歇电子能谱
的基本原理
答:
因此,
俄歇电子能谱
适用于轻元素的分析。如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子,这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。同样,LMM俄歇电子是L层电子被激发,M层电子填充到L层,释放的能量又使另一个M层电子激发所形成的俄歇电子。参考...
SEM、 TEM、 XRD的异同点是什么?
答:
4、俄歇电子在固体中运行也同样要经历频繁的非弹性散射,能逸出固体表面的仅仅是表面几层原子所产生的俄歇电子,这些电子的能量大体上处于 10~500电子伏,它们的平均自由程很短,大约为5~20埃,因此
俄歇电子能谱
所考察的只是固体的表面层。俄歇电子能谱通常用电子束作辐射源,电子束可以聚焦、扫描,因...
价带谱和
俄歇谱
的区别
答:
价带谱和俄歇谱的区别:1、
俄歇电子能谱
开始被实际应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。2、俄歇电子特点来自浅层表面,带出表面的资讯,俄歇谱的能量位置固定,容易分析。3、价带谱反应固体价带结构的信息,可以提供固体材料的电子结构信息。4、价带谱不能直接反映能带结构,必须经过复杂的理论处理和...
俄歇电子能谱
(AES) 案例介绍
答:
俄歇电子能谱
(AES)应用简介 1.分析固体材料表面纳米深度的元素组成,可以对纳米级形貌进行观察(SAM)和成分表征;2.分析均匀原材料(粉末颗粒,片材等)的表面组成,表界面特定元素定性半定量测试,材料表面缺陷如污染,腐蚀,掺杂,吸附、杂质解析等;3.结合离子溅射枪进行深度剖析,表征金属钝化层,掺杂深度...
俄歇电子能谱
的背景历史
答:
在表面组分分析方法中,除化学分析用电子能谱以外,
俄歇电子能谱
是最重要的一种。目前它已广泛地应用于化学、物理、半导体、电子、冶金等有关研究领域中。虽然早在 1925 年法国人俄歇就已在威尔逊云室内首次发现了俄歇电子的径迹,1953 年兰德从二次电子能量分布曲线中第一次辨认出俄歇电子谱线, 但是...
俄歇电子能谱
为什么能够定量分析
答:
大多数元素在50~1000eV能量范围内都有产额较高的
俄歇电子
,它们的有效激发体积(空间分辨率)取决于入射电子束的束斑直径和俄歇电子的发射深度。能够保持特征能量(没有能量损失)而逸出表面的俄歇电子,发射深度仅限于表面以下大约2nm以内,约相当于表面几个原子层,且发射(逸出)深度与俄歇电子的能量以及...
俄歇电子能谱
仪的仪器构造
答:
俄歇
能谱
仪包括电子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统。以下分别进行介绍。 这是AES的心脏,其作用是收集并分开不同的动能的电子。 由于
俄歇电子
能量极低,必须采用特殊的装置才能达到仪器所需的灵敏度。目前几乎所有的
俄歇谱
仪都使用一种叫作筒镜分析器的装置。分析器的主体...
为什么
俄歇电子能谱
法不适于分析h和he元素
答:
俄歇电子
谱不能探测He元素,因为He只有一层电子,不能产生俄歇效应;X射线光
电子谱
不能探测He元素,X射线光
电子能谱
仪是使样品内层电子产生光电子,但是He只有一层电子,不能探测。
俄歇
效应的研究应用
答:
1953 年,兰德首次进行了
俄歇电子能谱
用于表面分析的研究。到1967年哈里斯采用电子能量微分法,使电子能量分布曲线上的俄歇谱峰通本底区分开来,才使得俄歇效应的应用走上实用阶段。基于俄歇效应的俄歇电子能谱仪是一种实用较广的表面分析仪器 ,它靠检测自表面逸出的俄歇电子的特征能谱铏表面成份分析,了解...
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